个人简介

教育背景 2015-2016，美国密歇根大学，访问学者 2001-2004，北京航空航天大学，博士 1995-1998，北京航空航天大学，硕士 1991-1995，北京航空航天大学，学士 讲授课程 （1）本科生专业课程《测试性设计分析与验证》、核心通识课《电子系统测试性设计技术》 （2）硕士专业课程《测试性建模与分析》、《系统测试性设计与验证》 奖励与荣誉 (1)2018年，国家科学技术进步奖，二等奖，排名第三 (2)2015年，省部科学技术进步奖，一等奖，排名第一 学术成果 一、教材与专著，编写7部，部分著作： (1) 《测试性设计分析与验证》， 2011 (2) 《系统测试性设计分析与验证》， 2003 (3) 《系统可靠性设计分析教程》， 2001 二、标准 (1) 《测试性试验与评价》 三、授权技术发明专利25项，完成技术转让专利5项，部分专利如下： (1)一种基于多阶测试门限判别的故障隔离方法，2017.02.15，中国，ZL201410158704.1 (2)一种考虑亚健康状态和单入单出约束的产品故障诊断方法，2017.02.15，中国，ZL201410158022.0 (3)一种基于测试性建模数据的故障检测与隔离综合方法，2016.08.24，中国，ZL201410158021.6 (4)一种考虑端口交联关系的D矩阵合成方法，2016.08.17，中国，ZL201310401512.4 (5)一种支持故障直接注入的测试性试验电路板制作方法，2016.05.18，中国，ZL201410158015.0