中国科学院上海技术物理研究所副研究员。2005年于武汉理工大学材料学专业获工学硕士学位,2010年于上海技术物理研究所微电子学与固体电子学专业获理学博士学位。近年来一直在新型短波红外InGaAs焦平面探测器方面从事基础及应用基础研究,内容涉及器件物理、器件研制和器件性能测试等方面
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